?直觀(guān)的圖形化界面設計，簡(jiǎn)化了參數配置及I-V測試分析過(guò)程

?支持從測量設置、執行到結果分析、數據管理的整個(gè)表征過(guò)程

?可搭配IT2800系列SMU，分辨率最高可達100nV/10fA

即用型測試項，加速器件表征測試

SPS5000軟件具有各種強大的功能，可以快速進(jìn)行測量并以圖形化方式獲取結果。為加速半導體器件檢定測試過(guò)程，SPS5000針對常見(jiàn)的器件類(lèi)型，例如MOSFET、二極管、BJT以及薄膜電阻配備多種即用型測試項，使用者無(wú)需進(jìn)行任何的測試項開(kāi)發(fā)或代碼編程，即可快速執行復雜的半導體測試。以MOSFET的Id-Vd輸出特性測試為例，傳統的測試過(guò)程需要經(jīng)過(guò)：定義測試變量-----開(kāi)發(fā)測試流程-----編寫(xiě)測試代碼-----執行測試。而通過(guò)SPS5000軟件用戶(hù)僅需要三個(gè)簡(jiǎn)單的步驟，即可快速完成測試，第一步選擇即用型測試項Id-Vd-----第二步配置測量條件-----第三步執行測試。

靈活提供測試序列，提升測試效率

SPS5000軟件提供了一種靈活且高效的方法，允許用戶(hù)選擇多個(gè)測試項來(lái)構建測試序列，以便對半導體器件參數指標進(jìn)行連續測試，從而顯著(zhù)縮短了測試時(shí)間。這項功能適用于具備相同接線(xiàn)方式的測試項。在進(jìn)行測試配置時(shí)，當您選擇其中一個(gè)測試項，軟件會(huì )自動(dòng)顯示具有相同測試接線(xiàn)的其他測試項。您可以根據具體的測試場(chǎng)景和需求，選擇一次執行單個(gè)測試項（如Id-Vd）或組合成測試序列進(jìn)行連續測試（Id-Vd，Vth，IonIoffSlop），以實(shí)現半導體器件性能的評估和驗證。

強大的圖表在線(xiàn)分析功能

SPS5000軟件提供了強大的圖形顯示和分析功能。用戶(hù)可以利用軟件提供的各種圖表分析工具，如曲線(xiàn)自動(dòng)縮放、恒值線(xiàn)、區域標記、切線(xiàn)、分布線(xiàn)等，快速完成對測試結果的分析。用戶(hù)無(wú)需導出圖表后借助其他輔助工具，更加方便快捷。此外，軟件還支持多Y軸功能，并允許用戶(hù)根據分析需求靈活配置X軸和Y軸的數據類(lèi)型，以及選擇log或linear刻度顯示格式，讓曲線(xiàn)顯示更直觀(guān)和符合分析的意圖。如下圖所示，當您開(kāi)啟line功能后，軟件會(huì )自動(dòng)顯示line與曲線(xiàn)交點(diǎn)位置的參數值。